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LD用老化测试座
对于LD的老化测试座,可以将封装前的芯片放置到测试座中,对此进行测试。
盖子这一侧,设置光电二极管,可以逐个被检测出。
在封装之前进行评估,可以降低选择成本。
可以同时搭载10~20个。
LED用测试座
这个是用来给单个LED裸芯片老化问题进行测试的测试座。
可以对LED裸芯片检测,所以,会减少封装成本。
可以就量产用的老化测试或者产品检查用的测试座,进行提案。
考虑到LED芯片放热的问题来选择适当的耐热材料,同时使用其他散热的方式。
可以对*近需求增长的UV-LED用测试座进行提案。
1个测试座上可以同时搭载多个小的测试座,也可以就量产时候需要的老化测验进行提案。
图像传感器
可以提案带有将图像传感器的光学中心修正到一定的位置上的机制的产品。
可以对生产线的老化测试或者性能评估用的测试座进行提案。
可以生产多个图像传感器同时测试用的测试座。
也曾经成功制作过医疗用的□1.0mm以下的封装用的测试座。
标准型开口设计测试座
多机能型开口设计测试座