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功率器件

功率晶体管测试座 C001系列

C001系列 Bus Bar型


在功率半导体产业中,近年来,使用SiC作为材料,非常活跃地针对那些具有高耐电压和大电流的产品进行开发设计、但是,现在还没有能满足这个规格的测试座。SDK可以生产满足这个规格,就算在高温情况下也可以使用。C001系列是以TO封装为对象的测试座根据耐热温度的不同,可以将树脂和接触端进行不同的组合。树脂我们会用PEEK和PPS,接触端我们会用不锈钢/BeCu铍铜。引线端子形状有两种类型,板装型(DIP)和Bus Bar连接型。会提案*适合环境的治具。可以对应高温高湿度偏差试验。例:1200V/max 漏电 100mA以下。



规格

规格概要
适用PKGTO-220, TO-3P, TO247
插拔次数10,000回(根据本公司所进行的实验 )
接触电阻20mΩ以下(初期値)
额定电流30A MAX(25℃)
绝缘电阻500mΩ以上
耐电压DC 5KV MAX (200℃)
使用温度范围-55℃~+220℃





功率器件用测试座

功率器件用,例如IGBT、功率晶体管、电流传感器等且能够对应使用大电流的测试座。从今往后对于大电流的需求在不断增长,我们也会着力在电力电子领域。为了提高器件的散热性,可以选择夹住的固定方式或螺丝固定方式等各种各样的客制化设计。通过用小电阻的材料,可以对应100A以上的大电流。我们也可以根据您的需要来进行测试治具设计的提案。

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