联系电话 :020-38936012
18818910308(负责人:宝先生)
C001系列 Bus Bar型
在功率半导体产业中,近年来,使用SiC作为材料,非常活跃地针对那些具有高耐电压和大电流的产品进行开发设计、但是,现在还没有能满足这个规格的测试座。SDK可以生产满足这个规格,就算在高温情况下也可以使用。C001系列是以TO封装为对象的测试座根据耐热温度的不同,可以将树脂和接触端进行不同的组合。树脂我们会用PEEK和PPS,接触端我们会用不锈钢/BeCu铍铜。引线端子形状有两种类型,板装型(DIP)和Bus Bar连接型。会提案*适合环境的治具。可以对应高温高湿度偏差试验。例:1200V/max 漏电 100mA以下。
功率器件用,例如IGBT、功率晶体管、电流传感器等且能够对应使用大电流的测试座。从今往后对于大电流的需求在不断增长,我们也会着力在电力电子领域。为了提高器件的散热性,可以选择夹住的固定方式或螺丝固定方式等各种各样的客制化设计。通过用小电阻的材料,可以对应100A以上的大电流。我们也可以根据您的需要来进行测试治具设计的提案。